Last Modified: Friday, 12-Mar-2002 16:10:34 JST

第 63 回 分 析 化 学 討 論 会

研究発表プログラム(速報版)


  1. 座長は交渉中の方を含みます(3 月 5 日現在)。
  2. 講演時間は,主題講演(口頭発表) 20 分(講演 15 分,討論 5 分),一般講演(口頭発表) 15 分(講演 12 分,討論 3 分),テクノレビュー( 30 分講演と 15 分講演があります。),依頼講演 30分(討論時間を含む)です。
  3. ポスター発表時間は,第 1 日(5 月 25 日) 12 時 50 分〜 13 時 50 分,第 2 日(5 月 26 日) 12 時 20 分 〜 13時 20 分がコアタイムです。
     ※ ポスター発表については,別記も参照ください。
  4. 講演番号の末尾の「*」は,主題講演を示します。又,講演番号の末尾の「 T 」は,テクノレビュー講演(末尾に*印があるテクノレビュー講演は 30 分講演,無印は 15 分講演)です。
  5. 講演時の映写は,OHP に限ります。
  6. 特殊文字等は正しく表示されておりませんが,ご了承ください。
  7. 3月5日現在の講演プログラムです。変更することもあります。

【H  会  場】第 1 日(5 月 25 日)
10:00〜10:45

座長 谷田 肇

1H01 X 線のプリズム効果
(京大工・NTT-AT)○河合 潤・原田真吾・浜井雄太・竹中久貴
1H02 X 線光電子分光法におけるエネルギー軸及び強度軸の標準化
(産総研)○福本夏生・小島勇夫
1H03 斜出射 EPMA による局所薄膜分析
(東北大金研・日産アーク)○辻 幸一・Filip Delalieux・我妻和明・佐藤成男
10:45〜11:25

座長 辻 幸一

1H04* エネルギー可変なマイクロビーム生成と放射光 X 線分光顕微鏡の開発
(広島大院工・JASRI)○早川慎二郎・鈴木基寛・寺田靖子・廣川 健
1H05* 放射光 X 線分光顕微鏡による個別粒子の元素プロファイル測定
(広島大院工・京大院エネ)○池ヶ谷応之介・早川慎二郎・東野 達・廣川 健
11:25〜11:55

座長 二宮利男

依頼講演16 SPring-8 における化学分析
(高輝度光科学研究セ)寺田靖子
14:00〜15:00

座長 早川慎二郎

依頼講演17 放射光 X 線イメージング
(姫路工大理)篭島 靖
1H06 Si,O2/Si 多層膜の深さ方向分析;分析分科会共同試験報告
(産総研・北海道立工試・長野県精密工試)○小島勇夫・東 康史・斎藤隆之・米久保 荘・分析分科会表面分析第二試料プロジェクト
1H07 Ko-機器中性子放射化分析法による底質標準物質の多元素定量
(原研東海)○米沢仲四郎・松江秀明・Sri Wardani
15:00〜15:55

座長 山田 隆

1H08 中性子放射化分析法による産業廃棄物焼却飛灰標準試料中の多元素定量の評価
(武蔵工大工)○岡田往子・平井昭司
1H09* 小型 X 線発生装置を搭載した年代評価用ルミネセンス自動測定システムの開発
(新潟大理・新潟大院自然)○橋本哲夫・中川貴博
1H10* 高圧合成ダイヤモンド中に固溶した微量ニッケルについてのマイクロ XAFS 測定
(広島大院工・筑波大・JASRI)○張 利広・早川慎二郎・若槻雅男・鈴木基寛・廣川 健
15:55〜16:40

座長 津越敬寿

1H11 ウェハアナライザ及び TOF-SIMS による GaAs ウェハ表面汚染評価
(三菱電機先端技研)平野則子
1H12T* 走査型 LASER-TOF 二次元元素分析装置の開発
(ユニソク・京大工・福井大工)○長村俊彦・宮武 優・新田祐平・岡崎 敏
16:40〜17:10

座長 脇田久伸

依頼講演18 犯罪捜査と X 線分析
(兵庫県警科捜研)二宮利男
【H  会  場】第 2 日(5月26日)
09:30〜10:30

座長 福本夏生

2H01* 高速蛍光 X 線イメージングシステムの開発と生体組織のイメージングへの応用
(広島大院工・JASRI・富山医薬大)○松尾英晃・早川慎二郎・寺田靖子・高川 清・廣川 健
2H02* 全反射 XAFS 法による水溶液表面濃度定量法
(阪大院理・高輝度光科研セ・九大院理・福岡女大・山梨大機器分析セ・東工大院理工)○渡辺 巌・谷田 肇・荒殿 誠・瀧上隆智・村上 良・室井聡一郎・池田宜弘・阪根英人・原田 誠
2H03* 水溶液表面の偏光全反射蛍光 XAFS 法の開発
(高輝度光科研セ・阪大院理・EPFL)○谷田 肇・渡辺 巌・永谷広久
10:30〜11:00

座長 谷口一雄

依頼講演19 進展する軟 X 線状態分析
(原研関西研)村松康司
11:00〜11:30

座長 渡辺 巌

依頼講演20 SPring-8 共同/専用ビームラインにおける分析
(中部大総合工研)岡本篤彦
13:30〜14:15

座長 村松康司

2H04 金属酸化物への金(III) イオンの吸着挙動と自動還元;アルミナとチタニアの比較
(九大院理・福岡大理・福岡大高機能研)○神垣亜希・岡上吉広・塚本大雅・松尾修司・脇田久伸・横山拓史
2H05 ボルタンメトリー法による銅表面の定量的な評価
(住友電工・阪大院工・神戸大理)○中山茂吉・柴田雅裕・桑畑 進・大堺利行
2H06 陽電子消滅分光法によるポリイミドフイルムの黒鉛化挙動の追跡
(北大院工・エートベシュローランド大)○金野英隆・K. Suvegh・A. Vertes
14:15〜15:00

座長 中山茂吉

2H07 セルフモデリングカーブレゾリュション法の分析化学における可能性
(関学大理)尾崎幸洋
2H08 固体 NMR によるアモルファス性リン酸アルミニウムの化学構造解析(その 2 );MQMAS NMR による酸素構造の決定
(新日鐵先端研)○金橋康二・齋藤公児
2H09 酸化カップリング反応を用いた極微量バナジウムの接触分析
(鳥取大教育地域)○松本優子・水谷由紀乃・中野惠文
15:00〜15:45

座長 金橋康二

2H10 多変量解析法を応用した顕微分光光度法によるインクジェットプリンタインクの分類
(愛知県警科捜研・愛知工大)○奥山修司・三井利幸
2H11 多変量解析法を用いた布粘着テープの異同識別に関する研究
(愛知県警科捜研・愛知工大)○肥田宗政・佐藤弘康・三井利幸
2H12 多変量解析法による異同識別時における判断基準-2-
(愛知工大・愛知県警科捜研)○三井利幸・奥山修司・肥田宗政
【Ⅰ  会  場】第2日(5月26日)
若手シンポジウム(14:00〜17:00)
主催 日本分析化学会若手交流会近畿支部
詳細は,下記のホームページにて随時掲載します。
http://www.chem.sci.osaka-u.ac.jp/~tsuka/2002youngsympo.html
 
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