日本分析化学会第77回分析化学討論会
04. X線分析・電子分光分析

G会場  第1日  5月27日(土)  13:30~16:20

座長:河合潤

G1007   5/27   13:30~13:45     

粉末X線回折 / Rietveld解析法による低結晶性結晶・高配向性結晶の定量—銅・亜鉛触媒中の酸化銅と酸化亜鉛・グラファイトの定量—

○中村 利廣1,2 ・ 根岸 勇貴1 ・ 萩原 健太3 ・ 大渕 敦司2 ・ 紺谷 貴之2 ・ 小池 裕也1
明大理工1 ・ リガク2 ・ 明大研究知財3

G1008   5/27   13:45~14:00     

通常X線源を用いる分散型XAFS測定装置の開発と価数の動的追跡

○大村 健人 ・ 柳川 博伸 ・ Munoz-Noval Alvaro ・ 田村 文香 ・ 早川 慎二郎
広島大院工

G1009   5/27   14:00~14:15     

Determination of Chelation Mechanism and Structure in Solution of Zn-Acetate and other Carboxylic Acid Chelates by XAFS and Raman Spectroscopies

○Munoz Noval, Alvaro1 ・ Kuruma, Takuya1 ・ Fukami, Kazuhiro2 ・ Nishio, Daisuke1 ・ Hayakawa, Shinjiro1
Hiroshima University1 ・ Kyoto University2

G1010   5/27   14:15~14:30     

光触媒効果に起因して放出される光触媒塗料由来微粒子の粒径評価および元素分析

○釘宮 颯希 ・ 国村 伸祐
東理大工

座長:早川慎二郎

G1011   5/27   14:40~14:55     

3次元配置偏光光学系における蛍光X線強度の理論計算

○田中 亮平 ・ 杉野 智裕 ・ 河合 潤
京大院工

G1012   5/27   14:55~15:10     

偏光光学系蛍光X線分析装置を用いたコマツナの微量元素定量

○井上 昂哉1 ・ 井戸 航洋1 ・ 稲垣 和三2 ・ 保倉 明子1
東京電機大工1 ・ 産総研2

G1013   5/27   15:10~15:25     

銭貨の分析-公鋳銭と模鋳銭の比較-

小沼 未帆 ・ ○櫻井 正美 ・ 青柳 佑希 ・ 西本 右子
神奈川大理

座長:村松康司

G1014   5/27   15:35~15:50     

ポータブル全反射蛍光X線分析装置を用いたナノグラムレベルのアルミニウム分析

○寺田 脩一郎 ・ 国村 伸祐
東理大工

G1015   5/27   15:50~16:05     

蛍光X線分析におけるレーザー加熱を用いた少量ガラスビード法

○高原 晃里1 ・ 大渕 敦司1 ・ 森山 孝男1 ・ 村井 健介2
リガク1 ・ 産総研2

G1016   5/27   16:05~16:20     

X線分析・放射線分析を利用した品質管理

○大森 崇史 ・ タンタラカーン クリアンカモル ・ 西萩 一夫 ・ 谷口 一雄
テクノエックス