G会場 第1日 5月27日(土) 13:30~16:20
G1007 5/27 13:30~13:45
粉末X線回折 / Rietveld解析法による低結晶性結晶・高配向性結晶の定量—銅・亜鉛触媒中の酸化銅と酸化亜鉛・グラファイトの定量—
G1008 5/27 13:45~14:00
通常X線源を用いる分散型XAFS測定装置の開発と価数の動的追跡
G1009 5/27 14:00~14:15
Determination of Chelation Mechanism and Structure in Solution of Zn-Acetate and other Carboxylic Acid Chelates by XAFS and Raman Spectroscopies
G1010 5/27 14:15~14:30
光触媒効果に起因して放出される光触媒塗料由来微粒子の粒径評価および元素分析
G1011 5/27 14:40~14:55
3次元配置偏光光学系における蛍光X線強度の理論計算
G1012 5/27 14:55~15:10
偏光光学系蛍光X線分析装置を用いたコマツナの微量元素定量
G1013 5/27 15:10~15:25
銭貨の分析-公鋳銭と模鋳銭の比較-
G1014 5/27 15:35~15:50
ポータブル全反射蛍光X線分析装置を用いたナノグラムレベルのアルミニウム分析
G1015 5/27 15:50~16:05
蛍光X線分析におけるレーザー加熱を用いた少量ガラスビード法
G1016 5/27 16:05~16:20
X線分析・放射線分析を利用した品質管理