01：原子スペクトル分析
04：X線分析・電子分光分析
テクノレビュー講演（口頭発表）
C会場　第１日　　５月２２日（土）　　09:00～12:00

座長：牧　秀志

C1001   5/22   09:00～09:15     

はんだ中における元素成分の均質性に関する検証

○朱 彦北
産総研物質計測標準

C1002   5/22   09:15～09:30     

高選択性樹脂を用いた主成分分離によるマグネシウム合金中極微量水銀の定量

○上本 道久 ・ 谷 直哉
明星大院理工

C1003   5/22   09:30～09:45     

ICP発光・質量分析計を利用した単一細胞元素分析に向けた試料導入アブレーション装置の開発

○青木 元秀¹ ・ 川口 航平¹ ・ 東 慶紀¹ ・ 三浦 僚介¹ ・ 前本 佑樹¹ ・ 伊藤 昭博¹ ・ 安井 隆雄² ・ 沖野 晃俊³ ・ 梅村 知也¹
東京薬大生命¹ ・ 名大院工² ・ 東工大未来研³

C1004   5/22   09:45～10:00     

HPLC-ICP-MSによる河川水中ガドリニウムの化学形態分析

○岡林 識起¹ ・ 河根 怜央奈¹ ・ 亀本 雄基¹ ・ 岩井 貴弘² ・ 成川 知弘³ ・ 壷井 基裕¹ ・ 千葉 光一¹
関学大理工¹ ・ 理研SPring-8セ² ・ 産総研計量標準³

C1005   5/22   10:00～10:15     

化学分析及び蛍光X線法によるガラス中のイオウの価数分析

○西條 佳孝^1,2 ・ 鈴木 祐一¹ ・ 秋山 良司¹ ・ 清水 雅弘² ・ 下間 靖彦² ・ 三浦 清貴²
AGC¹ ・ 京都大学²

C1006T   5/22   10:15～10:45      【テクノレビュー講演（口頭発表）】

リアクションセルを搭載したNu Instruments の TOF-ICP-MS "Vitesse" による
ナノ粒子の元素組成分析および高速元素イメージング分析のご紹介

Phil Shaw¹ ・ Lukas Schlatt¹ ・ ○高橋 隆子² ・ 並木 健二³
Nu Instruments¹ ・ アメテック² ・ 日立ハイテクサイエンス³

座長：上本　道久

C1007  講演中止

 

 

C1008   5/22   11:00～11:15     

高精度全反射蛍光X線微量分析に向けた凍結乾燥法による薄膜様乾燥痕の作製

○松山 嗣史¹ ・ 田中 悠大² ・ 中江 理紀² ・ 辻 幸一¹
阪市大院工¹ ・ 阪市大工²

C1009   5/22   11:15～11:30     

大気中浮遊粒子を捕集した不織布マスクの全反射蛍光X線分析

○山口 浩輝 ・ 松山 嗣史 ・ 辻 幸一
阪市大院工

C1010   5/22   11:30～11:45     

斜入射蛍光X線分析法によるエアロゾルの微量無機元素分析

○高原 晃里¹ ・ 森川 敦史¹ ・ 北山 紗織² ・ 松山 嗣史³ ・ 辻 幸一³
リガク¹ ・ 紀本電子工業² ・ 阪市大院工³

C1011   5/22   11:45～12:00     

純鉄中の水素関与欠陥検出のためのin situ陽電子消滅測定

○藤浪 眞紀 ・ 遠藤 悠祐 ・ Chiari, Luca
千葉大院工