04.　X線分析・電子分光分析
B会場　第２日　　５月２７日（日）　　13:15～13:45

座長：辻幸一

B2006   5/27   13:15～13:30     

極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析法で得られたHfO₂薄膜/Si基板構造のオージェデプスプロファイルの解析

○荻原 俊弥 ・ 長田 貴弘 ・ 吉川 英樹
物材機構

B2007   5/27   13:30～13:45     

放射光マイクロビーム蛍光X線CT法による毛髪中微量元素の3D濃度分布解析

○近藤 涼介¹ ・ 大和 拓馬¹ ・ 本多 定男² ・ 西脇 芳典^2,3 ・ 早川 慎二郎^1,2
広島大院工¹ ・ JASRI² ・ 高知大教育³