04.　X線分析・電子分光分析
B会場　第２日　　５月２７日（日）　　09:00～10:15

座長：中山健一

B2001   5/27   09:00～09:15     

500 mW 3D polarized XRF

○Bolortuya Damdinsuren ・ Tomohiro Sugino ・ Ryohei Tanaka ・ Jun Kawai
Department of Materials Science and Engineering, Kyoto University

B2002   5/27   09:15～09:30     

レジスト塗布膜基板を用いる全反射蛍光Ｘ線分析法の基礎検討

○辻 幸一¹ ・ 蓬田 直也¹ ・ 小入羽 祐治²
阪市大院工¹ ・ 日本電子²

B2003   5/27   09:30～09:45     

ニュースバルBL10を利用した絶縁性厚膜試料の全電子収量軟X線吸収測定

○村松 康司 ・ 谷 雪奈 ・ 飛田 有輝 ・ 濱中 颯太 ・ 吉田 圭吾
兵庫県大院工

座長：村松康司

B2004   5/27   09:45～10:00     

粉末X線回折法によるSi₃N₄中の極微量未反応Siの定量

○中村 利廣^1,2 ・ 高野 亮太郎¹ ・ 宮川 晃尚¹ ・ 萩原 健太¹ ・ 大渕 敦司²
明大理工¹ ・ リガク²

B2005   5/27   10:00～10:15     

高速度鋼-高希釈(270～570倍)ガラスビードにおけるX線吸収効果

○中山 健一 ・ 我妻 和明
東北大金研