K1010   9/17   16:30～16:45  

試料冷却ステージを用いた極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析による酸化物薄膜の分析

○荻原 俊弥
物材機構

K1011   9/17   16:45～17:00  

ガンドルフィカメラによる結晶構造解析

○大渕 敦司 ・ 白又 勇士 ・ 紺谷 貴之 ・ 山野 昭人 ・ 藤縄 剛
リガク

K1012*   9/17   17:00～17:20   【依頼講演】

X線吸収スペクトルの価数による見かけ上の吸収端シフト

○山本 孝
徳島大院総科教育

K1013Y   9/17   17:20～17:30  

粉末X線回折法とケモメトリックスに基づく医薬品原末中の多成分の同時定量

○大塚 裕太¹ ・ 伊藤 丹² ・ 竹内 政樹³ ・ 田中 秀治³
徳島大院薬¹ ・ 徳島大薬² ・ 徳島大院HBS³

K1014   9/17   17:30～17:45  

転換電子収量法によるXAFS測定およびイメージングのための棒状電極の開発

○伊達 幸平¹ ・ 國崎 佑介² ・ 吉岡 剛志⁴ ・ 西脇 芳典^3,4 ・ 橋本 敬⁴ ・ 本多 定男⁴ ・ 高田 昌樹⁴ ・ 早川 慎二郎^1,4
広島大院工¹ ・ 広島大工² ・ 高知大教³ ・ JASRI/SPring-8⁴

K1015   9/17   17:45～18:00  

マンガンが添加された青色アパタイトに対するXAFSによる研究

○沼子 千弥¹ ・ 北原 圭祐¹ ・ 島津 美子³ ・ 谷口 陽子²
千葉大理¹ ・ 筑波大人文² ・ 歴民博³