04. X線分析・電子分光分析
B会場 第2日 5月27日(日) 09:00~10:15
座長:中山健一
- B2001
5/27
09:00~09:15
- 500 mW 3D polarized XRF
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○Bolortuya Damdinsuren ・ Tomohiro Sugino ・ Ryohei Tanaka ・ Jun Kawai
Department of Materials Science and Engineering, Kyoto University
- B2002
5/27
09:15~09:30
- レジスト塗布膜基板を用いる全反射蛍光X線分析法の基礎検討
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○辻 幸一1 ・ 蓬田 直也1 ・ 小入羽 祐治2
阪市大院工1 ・ 日本電子2
- B2003
5/27
09:30~09:45
- ニュースバルBL10を利用した絶縁性厚膜試料の全電子収量軟X線吸収測定
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○村松 康司 ・ 谷 雪奈 ・ 飛田 有輝 ・ 濱中 颯太 ・ 吉田 圭吾
兵庫県大院工
座長:村松康司
- B2004
5/27
09:45~10:00
- 粉末X線回折法によるSi3N4中の極微量未反応Siの定量
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○中村 利廣1,2 ・ 高野 亮太郎1 ・ 宮川 晃尚1 ・ 萩原 健太1 ・ 大渕 敦司2
明大理工1 ・ リガク2
- B2005
5/27
10:00~10:15
- 高速度鋼-高希釈(270~570倍)ガラスビードにおけるX線吸収効果
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○中山 健一 ・ 我妻 和明
東北大金研