第 55 巻 第 6 号
2006 年 6 月
保田和雄・矢口紀恵・中村邦康・平野義博・広川吉之助 357
原子間力顕微鏡による機能分子の特異的な分子間相互作用力の直接測定と評価
門 晋平・木村恵一 369
大沼正人・鈴木淳市 381
飛行時間型粉末中性子回折データの最大エントロピー法解析による原子核密度の三次元可視化
泉 富士夫・河村幸彦 391
粉末回折法による合成A型ゼオライトの結晶構造の高精度解析と可視化
紺谷貴之・小澤哲也・藤縄 剛・大野敦子・中村利廣 397
窒化チタンを被覆した炭化タングステン−コバルト合金の残留応力測定に対するインプレーンX線回折法の適用
鷹合滋樹・安井治之・粟津 薫・佐々木敏彦・広瀬幸雄・桜井健次 405
第3世代放射光X線広角散乱によるタンパク質の熱アンフォールディング過程の階層構造依存性の解明
小泉将治・平井光博・井上勝晶 411
高分解能分析電子顕微鏡による二酸化セリウム/イットリア安定化ジルコニア/シリコンヘテロ界面構造の原子スケール構造評価
木口賢紀・脇谷尚樹・水谷惟恭・篠崎和夫 419
共焦点型蛍光X線分析装置の開発と米試料の三次元元素マッピング
中野和彦・辻 幸一 427
高エネルギー放射光励起によるセリウム及びガドリニウムの蛍光X線Kスペクトルの測定
原田雅章・庄司雅彦・河田 洋・桜井健次 433
X線ルミネセンス強度の入射角依存性の測定及び新しい原子分解能ホログラフィーの可能性
林 好一・林 徹太郎・宍戸統悦・松原英一郎・牧野久雄・八百隆文 441
低原子番号被覆層を有する平板X線導波路特性の数値シミュレーション
Pavel Karimov・Ernst Z. Kurmaev・河合 潤 447
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